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電科思儀推出國(guó)內(nèi)首套500GHz多功能芯片測(cè)試解決方案
來(lái)源：新聞中心
發(fā)布時(shí)間：2026年01月26日 編輯：新聞中心
近日，電科思儀研制出3601型S參數(shù)測(cè)試模塊、36102型探針、20501型校準(zhǔn)片等系列產(chǎn)品，結(jié)合商業(yè)探針臺(tái)，在國(guó)內(nèi)首次推出最高頻率至500GHz的高穩(wěn)定、多功能太赫茲芯片測(cè)試解決方案。
太赫茲技術(shù)正加速?gòu)膶?shí)驗(yàn)室走向商業(yè)應(yīng)用，使得行業(yè)對(duì)太赫茲芯片測(cè)試的要求發(fā)生了根本性轉(zhuǎn)變，測(cè)試目標(biāo)已不再局限于功能層面的“能用”，而是全面追求復(fù)雜真實(shí)場(chǎng)景中性能穩(wěn)定、測(cè)試高效且成本可控的“好用”。電科思儀太赫茲多功能芯片測(cè)試解決方案，能夠?qū)崿F(xiàn)太赫茲芯片幅度、相位、群時(shí)延等參數(shù)精準(zhǔn)測(cè)試。該方案具有良好的幅度穩(wěn)定性和相位穩(wěn)定性，適用于晶圓級(jí)太赫茲芯片的研發(fā)驗(yàn)證與量產(chǎn)測(cè)試。結(jié)合自主開(kāi)發(fā)的多功能測(cè)試軟件算法，一次扎針可實(shí)現(xiàn)散射參數(shù)、功率參數(shù)的一體化測(cè)試，大幅度提升晶圓級(jí)太赫茲芯片的測(cè)試效率和測(cè)試精度。
